x射线荧光光谱分析仪器 厂家天瑞仪器 能量色散x射线荧光光谱仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
(一)、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例,V、Ti较多时称钒钛磁铁矿,含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料,钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s 
能量分辨率为:(150±5)eV 
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:315×95mm
重量:105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。
x射线荧光光谱分析仪器
型号:3600B
仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
(4)型号:HD1000
仪器介绍
XOS公司的HD1000仪器为rohs和涂层表面的有害物质、重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理,有效的降低了测试背景,使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面,操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。
性能特点
单键操作,简单方便
采用业界的聚光装置,x荧光曲面晶体进行聚光处理
通过使用晶体产生单色光,进行测试,明显减少检测背景干扰。
通过聚光处理,有效降低光管功率的80%,大大延长了光管使用寿命
HD分析仪可分别测定涂层和基体中的铅含量(和其它9种有害元素)――一次完全测定。
测试面积1mm,产品上小的特征也能充分测定。
测试精度和准确性不受表面光滑度和产品形状的影响――光滑或不规则,平面或曲面。
HD 1000分析仪能可靠地测定CPSIA规定中涂层或基体的新标准以下。
分析仪可测试成品、部件或原材料中的铅含量――样品可以是粉末或液体。
HD 1000采用的是无损分析技术,对测试样品不造成任何破坏。
**的简易操作,仪器可以放在工厂地板上,成品库中或试验室里实用。
所有含铅材料都可以有效测定:塑料、木材、金属、纺织品、纸张、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析仪的每一个细节和特点均是为达到玩具和儿童用品业的要求而设计和优化的。
x射线荧光光谱分析仪器
贵金属回收
决定玩具质量优劣的因素包括原材料的选取、生产环节的以及终端产品的质量检测等。但目前的玩具企业在生产环节中,力度不力。众所周知,近广东一玩具厂生产的玩具因铅含量**标问题被召回,老板闻讯,该玩具厂使用上游供应商的“无铅油漆”前没有进行再检测,以及对玩具成品缺乏必要检测都是造成这起悲剧的直接原因。
调查显示,像上述玩具厂这类情况在的玩具企业普遍存在,目前玩具安全形势不容忽视。在对一些中、小型玩具企业的采访中了解到:除了部分中小企业忽视玩具生产过程的“绿色”外,部分企业对生产过程“绿色”的成本过高感到力不从心,一台检测仪器动辄都是四五十万,甚至上百万的昂贵设备望而却步,如果再加上维护成本和使用成本,这些企业是不堪重负。
随着玩具行业的发展,玩具安全法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具安全指令》、美国的玩具安全标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具安全标准。这些安全标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具安全检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等)、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
仪器介绍
性能特点
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
自动滤光片选择
多种准直器自动自由切换
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
样品腔自动开关
软件定位样品平台,小位移 0.01 mm
自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品
特别开发测量软件,操作界面十分友好
内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品
高贵时尚的外型,带给您全新的视觉冲击
的自动平台,方便地调节样品位置
配合自动平台全新开发的样品定位系统,实现“点”哪测哪
鼠标轻点样品视图中需要检测部位,将样品至位置,完成检测。
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
元素含量分析范围为1 PPm到
RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检测限达1PPM;
测量时间:60-200秒
能量分辨率为155±5电子伏特
管压:5~50KV
管流:50~1000μA
温度适应范围为15℃至30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
三维自由度**大的样品腔设计,样品腔尺寸:Φ450 x 90 mm
一次可同时分析24个元素
重量:110 kg
标准配置
样品平台
加强金属元素感度分析器
放大电路
信噪比增强器(SNE)
计算机、喷墨打印机
应用领域
电子电器行业,电镀行业、各种材质,塑胶,木头,玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测
x射线荧光光谱分析仪器
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
http://rohsyiqi.b2b168.com
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