厂家天瑞仪器 x射线荧光光谱仪帕纳科 X荧光光谱仪分析仪

RoHS检测仪属天瑞系列产品中的机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；综合应用经验系数法、基本参数法V8.0分析软件。元素测试范围从S-U。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素。可完全满足RoHS/WEEE/无卤相关管控要求。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
天瑞的谱图对比功能，实时追踪供应商物料发生变化并及时预警，对RoHS/无卤及供应商管控具有无可比拟的优势。
性能优势：
1．三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害；
2．大样品仓设计，相对于传统机型,在小的主机内配置了大空间；
3．采用新型的光路设计，大限度解决了空气光路对测量Cl元素的影响，保证了氯(Cl)元素的检出下限和稳定性；
4．新优化的V8.5分析软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度；
5．业内提供开放式工作曲线标定平台,可为用户量身定做佳的有害物质检测和控制方案；
6．融合了一系列的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；
7．国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，全面保证测试数据的准确性；
8．可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求；
9．可以提供六价铬定量测试技术与附件、镀层测厚和多元素分析软件（用户需另行购置）；
10．多语种软件界面可供选择；
11．天瑞的快速谱图对析方法，供应商物料发生变化及时预警功能。
仪器技术指标：
1、仪器尺寸：515(W)x405(D)x350(H)mm
2、样品腔尺寸：380*340*55mm；
3、测试元素范围：S-U中的元素
4、检测范围：1ppm-
5、RoHS检测限：Cd、Cr≦2ppm,Hg、Br≦0.25 ppm, Pb≦1 ppm，Cl≤15ppm
6、测试样品类型：固体、粉末和液体
7、测量时间 ：
快速测量：3s（系统自动判断，s）
测量：120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率：见探测系统详细参数说明
9、准直器：Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片：8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察：130万像素高清CCD
12、样品微动范围：XY8mm
13、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz
14、额定功率：350W
15、净重：约40Kg
16、工作环境温度：温度15—30℃
17、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）
18、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%

合金测试**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

X荧光光谱仪粉末样品误差主要来源：
（1） 粒度效应 粉末样品粒度效应是指被测量样品中的分析元素的荧光强度变化和样品的粒度变化有关。一般来说，被分析样品的粒度越小，荧光强度越高，轻元素尤甚。原子序数越小，对粒度越敏感；同一元素粒度越小，制样稳定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指组分元素在样品中分布的差异。偏析有两种：粒间偏析：粉末颗粒A 和B 之间混合不均匀；元素偏析：元素分布对粒度分布的非匀质性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情况下仍不能解决，可用其它制样手段，如熔融，溶解等。
（3）矿物效应 由于矿物的化学结构或微观晶体形态不同，含量相同的同一元素在不同的矿物中，它们的荧光强度会有很大的差异。所谓的矿物效应不单是针对矿物，在粉末样品的X 荧光光谱仪分析中有着广泛的含义。
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