x射线荧光光谱仪校准 天瑞仪器生产 波长色散x射线荧光光谱仪

检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

RoHS检测仪属天瑞系列产品中的机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；综合应用经验系数法、基本参数法V8.0分析软件。元素测试范围从S-U。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素。可完全满足RoHS/WEEE/无卤相关管控要求。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
天瑞的谱图对比功能，实时追踪供应商物料发生变化并及时预警，对RoHS/无卤及供应商管控具有无可比拟的优势。
性能优势：
1．三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害；
2．大样品仓设计，相对于传统机型,在小的主机内配置了大空间；
3．采用新型的光路设计，大限度解决了空气光路对测量Cl元素的影响，保证了氯(Cl)元素的检出下限和稳定性；
4．新优化的V8.5分析软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度；
5．业内提供开放式工作曲线标定平台,可为用户量身定做佳的有害物质检测和控制方案；
6．融合了一系列的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；
7．国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，全面保证测试数据的准确性；
8．可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求；
9．可以提供六价铬定量测试技术与附件、镀层测厚和多元素分析软件（用户需另行购置）；
10．多语种软件界面可供选择；
11．天瑞的快速谱图对析方法，供应商物料发生变化及时预警功能。
仪器技术指标：
1、仪器尺寸：515(W)x405(D)x350(H)mm
2、样品腔尺寸：380*340*55mm；
3、测试元素范围：S-U中的元素
4、检测范围：1ppm-
5、RoHS检测限：Cd、Cr≦2ppm,Hg、Br≦0.25 ppm, Pb≦1 ppm，Cl≤15ppm
6、测试样品类型：固体、粉末和液体
7、测量时间 ：
快速测量：3s（系统自动判断，s）
测量：120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率：见探测系统详细参数说明
9、准直器：Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片：8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察：130万像素高清CCD
12、样品微动范围：XY8mm
13、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz
14、额定功率：350W
15、净重：约40Kg
16、工作环境温度：温度15—30℃
17、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）
18、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%

X荧光光谱技术的发展
1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪，这是中国次引进X荧光光谱分析仪。 1895年，德国物理学家伦琴发现了X射线。 1896年，法国物理学家乔治发现了X射线荧光。 1948年，弗里德曼和伯克斯研制了台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪。
1969年，美国海军实验室研制真正意义上的EDXRF光谱仪。从上面的X荧光光谱仪的初始发展过程来看，荧光光谱分析仪这项技术比较年轻，从发现X射线荧光到出现X射线荧光光谱分析仪都不过一**，后应用到各种领域中的时间也才几十年。同样，我国X荧光光谱分析也是光谱分析领域中较年轻的分析手段之一，1959年，我国请苏联来华在应化所举办了x光谱学习班，随后，我国不断开展X荧光光谱学习班，为之后中国X荧光光谱分析技术打好了基础。
1981年，我国X光谱分析工作者出版了自己编著的书籍，由此可见，在这些年中，我国研究X荧光光谱的学者们做了不少的工作。
从上，我们知道了很多厂家都喜欢购买进口光谱仪，还了解我国引进台X荧光光谱仪后的发展，明明前后研制的时间差不多，几年的差距为什么技术差别那么大，我们是否真正克服了这项技术。1959年，我国研制了台X荧光光谱分析仪，但是这是大型的X荧光光谱分析仪（我们现在购买的X荧光仪器都是手持式的，方便易携带）。当年有单位购买了国产的大型X荧光光谱仪后，不仅所发挥的作用不大，还经常发生故障，不能充分发挥作用，因此，我国X荧光光谱分析发展受到了影响，大部分工作还是用进口仪器完成。 在X荧光光谱仪的研制与投产上学者与研制者们集聚力量，对X荧光光谱技术进行分析，之后的成果斐然。北京师范大学在X荧光光谱分析在表面微区，微试样的分析中做出了开创性的工作。王燕，赵敏等学者对X荧光强度与含量的线性关系进行了分析，并对定量分析方法进行了模拟运算，总结了优的计算方法。周云泷等学者通过计算机软件分析计算，对一些微量元素进行分析，达到较为满意的分析结果。之后的一些研究因篇幅原因不再一一概述，但之后越来越多的学者们都为X荧光光谱分析付出了努力。

型号：3600B
仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
（4）型号：HD1000
仪器介绍
XOS公司的HD1000仪器为rohs和涂层表面的有害物质、重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理，有效的降低了测试背景，使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面，操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。
性能特点
单键操作，简单方便
采用业界的聚光装置，x荧光曲面晶体进行聚光处理
通过使用晶体产生单色光，进行测试，明显减少检测背景干扰。
通过聚光处理，有效降低光管功率的80%，大大延长了光管使用寿命
HD分析仪可分别测定涂层和基体中的铅含量（和其它9种有害元素）――一次完全测定。
测试面积1mm，产品上小的特征也能充分测定。
测试精度和准确性不受表面光滑度和产品形状的影响――光滑或不规则，平面或曲面。
HD 1000分析仪能可靠地测定CPSIA规定中涂层或基体的新标准以下。
分析仪可测试成品、部件或原材料中的铅含量――样品可以是粉末或液体。
HD 1000采用的是无损分析技术，对测试样品不造成任何破坏。
**的简易操作，仪器可以放在工厂地板上，成品库中或试验室里实用。
所有含铅材料都可以有效测定：塑料、木材、金属、纺织品、纸张、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析仪的每一个细节和特点均是为达到玩具和儿童用品业的要求而设计和优化的。
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