x荧光厚度测量仪 深圳天瑞仪器 铝合金表面镀层测厚仪
  • x荧光厚度测量仪 深圳天瑞仪器 铝合金表面镀层测厚仪
  • x荧光厚度测量仪 深圳天瑞仪器 铝合金表面镀层测厚仪
  • x荧光厚度测量仪 深圳天瑞仪器 铝合金表面镀层测厚仪

产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
利用天瑞仪器的explorer5000镀银层测厚仪分析一系列铜镀银样品,所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996,线性相关性非常好。当银厚度为1-30 μm 范围内,测量值与标称值平均误差为0.6 μm, 30-60 μm 范围内平均误差为 1.3 μm,相对误差小于4%,在可接受范围以内,测厚范围可达1-60 μm。
铝合金表面镀层测厚仪
铝合金表面镀层测厚仪
铝合金表面镀层测厚仪
http://rohsyiqi.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第748395位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图