生产天瑞仪器 电镀铬层测厚仪 x荧光膜厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
扫描电镜法是通过从待测试样上部位垂直于覆盖层切割一块试样,经过镶嵌、研磨、抛光和浸蚀制成横截面金相试样,利用扫描电子显微镜进行镀层厚度测量。
测试设备:扫描电子显微镜
参考标准:JB/T 7503, ISO 9220,ASTM B748
电镀铬层测厚仪
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