天瑞仪器生产 波长色散x射线荧光光谱仪 x射线荧光光谱仪作用
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
PM2.5大气重金属在线分析仪 
仪器概述:
全天候PM2.5大气重金属在线分析仪是天瑞公司经过多年研发,采用国内天瑞的二次靶技术,利用X射线荧光原理和过滤溥膜收集PM2.5颗粒技术,搭载天瑞的VisualFP基本参数法分析软件,快速准确检测大气PM2.5颗粒中微量重金属含量。
应用领域:
大气质量监测
空气颗粒物重金属含量分析
污染源定位、溯源
性能优势:
1.目前国内只有天瑞拥有完整的二次靶技术。
2.采用两个二次靶就可以对PM2.5颗粒物中的重金属进行分析,光管靶材采用Rh靶,Mo靶测试(S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb),Gd靶测试(Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba)等。
3.空气收集采用双通道切割器,可对大气颗粒物浓度进行同源双路(PM2.5和PM10)连续监测,将空气收集后富集在滤膜上形成Φ11mm左右的斑点。
4.对滤膜样品无损检测,可保存。
5.天瑞的VisualFp基本参数法分析软件,*标准样品标定,即可对收集的滤膜样品进行重金属含量分析。
6.全天候长时间*人员监守。
7.采用工业级电子电气防雷设计标准,可有效防止雷击损伤。
8.软件可自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度
9.三重射线防护(软件、硬件、迷宫设计),确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害
10.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合多种统计及格式要求
11.软件对多次测试结果进行统计分析功能。
技术指标:
1.应用:全天候连续自动采样;测定空气中颗粒固体物中的重金属;
2.适用标准:美国EPA IO 3.3(《X射线荧光光谱法检测环境颗粒物种重金属》);
3.测量范围:0-1000ug/m3;
4.检出限0.1ug/m3(采样时间60min、流速:16.7 L/min)
5.采样流速:16.7 L/min(升/秒钟);
6.采样分析时间间隔:60分钟或根据需要调整,但不得低于30分钟;
7.监测元素:S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba等24种,可扩展;
8.软件采用方法:FP法
9.报表输出:EXCEL或PDF可选,报告附空气质量变化趋势图;
10.通讯接口:RS232/485,USB;
11.工作环境温度:15-30℃;
12.工作环境相对湿度: ≤85%(不结露)
13.供电电源:220V±10%,50/60HZ
x射线荧光光谱仪作用
检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品
x射线荧光光谱仪作用
型号:3600B
仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
(4)型号:HD1000
仪器介绍
XOS公司的HD1000仪器为rohs和涂层表面的有害物质、重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理,有效的降低了测试背景,使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面,操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。
性能特点
单键操作,简单方便
采用业界的聚光装置,x荧光曲面晶体进行聚光处理
通过使用晶体产生单色光,进行测试,明显减少检测背景干扰。
通过聚光处理,有效降低光管功率的80%,大大延长了光管使用寿命
HD分析仪可分别测定涂层和基体中的铅含量(和其它9种有害元素)――一次完全测定。
测试面积1mm,产品上小的特征也能充分测定。
测试精度和准确性不受表面光滑度和产品形状的影响――光滑或不规则,平面或曲面。
HD 1000分析仪能可靠地测定CPSIA规定中涂层或基体的新标准以下。
分析仪可测试成品、部件或原材料中的铅含量――样品可以是粉末或液体。
HD 1000采用的是无损分析技术,对测试样品不造成任何破坏。
**的简易操作,仪器可以放在工厂地板上,成品库中或试验室里实用。
所有含铅材料都可以有效测定:塑料、木材、金属、纺织品、纸张、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析仪的每一个细节和特点均是为达到玩具和儿童用品业的要求而设计和优化的。
x射线荧光光谱仪作用
作为一种比较成熟的成分分析手段,X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种,其中,固体粉末是分析得多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末,对于形状不规则的块状固体,如各种矿石,由于直接分析技术目前还不成熟,往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析,但由于不能抽真空等原因,有时将液体转变为固体,一些预分离、富集的结果也常是粉末,因此,粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分。
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