x射线荧光光谱仪国产 天瑞生产厂家 XRF
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合得奖号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
x荧光光谱仪xrf标准配置
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
合金测试**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
三重安全保护模式
整体钢架结构,力度可靠的保证
x射线荧光光谱仪国产
天瑞仪器公司是**生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX融汇合金分析技术,配备智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。
x射线荧光光谱仪国产
X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
(一)、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例,V、Ti较多时称钒钛磁铁矿,含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料,钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s 
能量分辨率为:(150±5)eV 
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:315×95mm
重量:105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。
x射线荧光光谱仪国产
性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现高的测试效率
检测75种元素·1ppm检出限·重复性0.05%·稳定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用,X射线的水平与普通大气环境状态下相等
性能稳定可靠,高达50W的功率实现高的测试效率
仪器上盖的测试自锁和高压电源紧急锁功能,带给您防护
技术参数
元素分析范围:硫(S)~ 铀(U)
分析检出限:1ppm
分析含量:ppm ~ 
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围:15℃ ~ 30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:144±5eV
样品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
仪器尺寸:550mm×410mm×320mm
仪器重量:45kg
仪器配置
移动样品平台
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
天瑞仪器在引进美国产的卤素测试X光管,利用高信噪比的电子线路单元和卤素测试X荧光分析软件,已经成功研制出新款分析仪器EDX1800B(H)。配件是针对卤族元素(特别是氯元素)的测试而开发。经过多次实验无卤分析所得数据分析,无卤分析的结果十分接近标准值,)可广泛应用于各种类型的无卤测试。
仪器详情
型号:EDX 1800B
仪器介绍
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
ROHS检测和镀层测厚
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
http://rohsyiqi.b2b168.com
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