电镀铬层 x射线膜厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
分析速度比较慢,快速的测试方法也要10~30min得到测试结果
电镀铬层
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