上市公司荣誉出品 元素分析仪器微量 x荧光光谱仪

适用标准:ASTM D1275B、IEC62535

性能优异的探测器
采用大尺寸CID探测器，、成熟、稳定；大面尺寸，**像素；165-900nm范围连续覆盖，一次曝光，全谱显示；非破坏性读取(NDRO) 功能，改善了弱分析线的信噪比，提高了结果的准确性，并且数据采集与分析均优于CCD； 的线性动态范围和与生俱来的抗溢出功能确保任意强弱的谱线可在一次曝光内测量并进行分析，同时为方法选择理想波长提供了灵活性（可选二、三或次灵敏线来排除干扰）。

EDX3200S  X荧光硫元素分析仪技术参数:
•  测硫范围:0.005%～5%;
•  重复性(r):＜0.02894(S+0.1691);
典型值：硫含量为1%的样品，测量时间90秒，重复3次，r≤0.02%
•  再现性(R):＜0.1215(S+0.05555); 
典型值：硫含量为1%的样品，测量时间90秒，重复3次，R≤0.05%

EDX3200S  X荧光硫元素分析仪是为了适应油品中硫含量检测需要而开发制造的X荧光分析仪。它采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040和GB 11140的相关要求,也完全符合为严格的美国国家标准D 4294-03的要求,它为或石油化工生产过程中硫含量的检测,提供了重要手段。仪器自身绿色环保,其仅为仪器的几分之一。
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