生产天瑞仪器 无损测厚仪 金属镀层分析
  • 生产天瑞仪器 无损测厚仪 金属镀层分析
  • 生产天瑞仪器 无损测厚仪 金属镀层分析
  • 生产天瑞仪器 无损测厚仪 金属镀层分析

产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
X-ray测厚仪针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器,已经成为电力行业,PCB行业,贵金属饰行业的镀层分析的常规手段,比传统的电解法测厚仪具有快的测试速度和分析精度,也比切片法具有快的分析效率测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
金属镀层分析
金属镀层分析
金属镀层分析
http://rohsyiqi.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第741754位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图