硅元素分析仪 x荧光光谱仪 厂家天瑞仪器
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产品描述

探测器分辨率140ev 环境温度16-36摄氏度 测试精度RSD0.05% 重复性0.05% 仪器尺寸800x600x100
EDX3200S  X荧光硫元素分析仪仪器特点:
7、采用一次性单面Mylar膜样品杯,可避免交叉污染;样品杯制作采用多功能压件,捷方便,杯盖上有气孔并可记录样品编号、S%(m/m)、日期;
8、载样台板置于滑轨平台上,定位非常;
9、仪器数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数随时可查;
硅元素分析仪
适用标准:GB/T 17040、GB/T 11140、ASTM D 4294-03
硅元素分析仪
仪器特点:采用精密控温技术,控温精度准确。
硅元素分析仪
注意事项:样品杯为一次性使用,防漏油部件膜上目视到漏油溢出,应立即换防漏油部件膜;
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