X光谱分析仪 x射线荧光光谱仪原理
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
PM2.5大气重金属在线分析仪 
仪器概述:
全天候PM2.5大气重金属在线分析仪是天瑞公司经过多年研发,采用国内天瑞的二次靶技术,利用X射线荧光原理和过滤溥膜收集PM2.5颗粒技术,搭载天瑞的VisualFP基本参数法分析软件,快速准确检测大气PM2.5颗粒中微量重金属含量。
应用领域:
大气质量监测
空气颗粒物重金属含量分析
污染源定位、溯源
性能优势:
1.目前国内只有天瑞拥有完整的二次靶技术。
2.采用两个二次靶就可以对PM2.5颗粒物中的重金属进行分析,光管靶材采用Rh靶,Mo靶测试(S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb),Gd靶测试(Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba)等。
3.空气收集采用双通道切割器,可对大气颗粒物浓度进行同源双路(PM2.5和PM10)连续监测,将空气收集后富集在滤膜上形成Φ11mm左右的斑点。
4.对滤膜样品无损检测,可保存。
5.天瑞的VisualFp基本参数法分析软件,*标准样品标定,即可对收集的滤膜样品进行重金属含量分析。
6.全天候长时间*人员监守。
7.采用工业级电子电气防雷设计标准,可有效防止雷击损伤。
8.软件可自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度
9.三重射线防护(软件、硬件、迷宫设计),确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害
10.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合多种统计及格式要求
11.软件对多次测试结果进行统计分析功能。
技术指标:
1.应用:全天候连续自动采样;测定空气中颗粒固体物中的重金属;
2.适用标准:美国EPA IO 3.3(《X射线荧光光谱法检测环境颗粒物种重金属》);
3.测量范围:0-1000ug/m3;
4.检出限0.1ug/m3(采样时间60min、流速:16.7 L/min)
5.采样流速:16.7 L/min(升/秒钟);
6.采样分析时间间隔:60分钟或根据需要调整,但不得低于30分钟;
7.监测元素:S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba等24种,可扩展;
8.软件采用方法:FP法
9.报表输出:EXCEL或PDF可选,报告附空气质量变化趋势图;
10.通讯接口:RS232/485,USB;
11.工作环境温度:15-30℃;
12.工作环境相对湿度: ≤85%(不结露)
13.供电电源:220V±10%,50/60HZ
x射线荧光光谱仪原理
针对EDX 1800B在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EDX 1800E。应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
x射线荧光光谱仪原理
粉末压片制样法主要分三步:干燥焙烧、混合研磨、压片。有粉末直接压片、粉末稀释压片、用粘结剂衬底和镶边等方法。
①结剂、助磨剂及其他添加剂
当样品本身的粘结力较小时,选择一种合适的粘结剂很重要。粘结剂有固体和液体两种,常用的固体粘结剂有、甲基纤维素、聚乙烯、石蜡、淀粉、滤纸或色谱纸浆、碳酸锂等。用石蜡和苯乙烯的混合物作粘结剂。粘结剂的加入量为样品的10%-50%,过多会影响轻元素的检出限。粘结剂的加入会使分析线强度下降,如果粘结剂颗粒度较大,还会引入颗粒度效应。从吸水性、样品的坚固性、抽真空时间、对仪器污染、制样成功率、成本等方面对几种常用的粘结剂作了比较, 得出低压聚乙烯是一种较理想的粘结剂。
液体粘结剂有、聚乙烯醇(PVA)等。使用液体粘结剂易制成均匀、重复性好的压片,制得的样片加坚固耐用。
在制备试样和标样过程中,除粘结剂外,还可加入助磨剂、内标元素、稀释剂等,液体粘结剂或助磨剂的大优点是不用称量,但压片后要烘干,加入的量也不可过多,一般100g样品中加入几毫升到十几毫升。固体粘结剂和助磨剂等需要准确称量,并且要混合均匀,因此,制样较麻烦,如果加上清洗粉碎容器的时间,有时甚至比熔融法长。在大批量的分析中,多采用直接压片或衬底压片法。
②粉碎技术
可用玛瑙或碳化钨研钵人工研磨,现在较多使用机械振动磨或球磨机,效率很高。一般样品均可粉碎至74μm以下(通过200目筛子),好的可以达到20μm左右。随着粉碎时间的延长,颗粒度减小到一定程度不再变细,如果继续粉碎,反而会发生“团聚”现象。要提高粉碎效率,可以加入固体或液体助磨剂。粉碎时间越长,粉碎容器带来的污染越严重,因此,选择一种合适的粉碎容器很重要。要比较这种污染,可以分析一种很硬的物质(如石英)经粉碎后的污染情况,或对比两种不同粉碎方法的分析结果。在分析痕量元素时,为了提高分析的灵敏度和准确度,这是非常必要的。还有一种污染,是不同粉碎试样间的相互污染。每次粉碎后都要保证容器清洗干净,当样品量较多时,粉碎前可用少量样品预“清洗”两次。
③压片
压样设备常见的有手动或电动液压机,粉末样品装入铝杯或铝环(或塑料环)中,在相应的模具中加压成型。在真空光谱仪中,粉末压片可能会含有空气或其它气体而发生溅射,既破坏了试样表面,又污染了样品室。可先在真空中压制成块,或在氦气光路中测量。为了减少压入片内空气的量,在装样时可轻拍样品,加压时要逐步压力,同时还要保压一定的时间。X荧光光谱仪分析是一种表面分析,尤其对于轻元素,分析时有效层厚度只有几个至十几个μm,表面的污染是致命的问题,同时还要求表面平滑。所以每次压片后都要把模具的表面洗净,隔一段时间还要对塞柱表面(对应于样片被测面)适当抛光。试样在保存过程中也要防止表面污染、表面破损、吸潮、氧化、吸附空气等。好是压片后尽快测量,对于标样、管理样等需长期保存的试样,以粉末状态密封保存较好,需要时临时压片。
④标准样品的制备
X荧光光谱仪分析是一种相对分析,标准样品的制备直接影响分析的准确度。粉末压片法的标样来源主要有三个:用其他方法分析试样;在成分已知的标样中加入某些成分;人工合成。
x射线荧光光谱仪原理
元素分析范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:ppm—(不同材质,分析范围不同)
同时分析元素:同时可以分析30种以上元素
检测限:RoHS指令规定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限高达ppm级
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度:≤70%
工作电压:AC 110V/220V
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