江苏天瑞仪器 上海镀层测厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
金相法是通过用金相显微镜检查被测零件的断面来测量金属镀层及氧化物覆盖层的厚度,具有精度高、重现性好等特点。一般用于对镀层厚度有要求的产品测厚或校验和仲裁其他测厚方法。
测试设备:金相显微镜
参考标准:GB/T 6462, ISO 1463,ASTM B487
上海镀层测厚仪
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