天瑞仪器生产 X光谱分析仪 x射线荧光光谱仪帕纳科
  • 天瑞仪器生产 X光谱分析仪 x射线荧光光谱仪帕纳科
  • 天瑞仪器生产 X光谱分析仪 x射线荧光光谱仪帕纳科
  • 天瑞仪器生产 X光谱分析仪 x射线荧光光谱仪帕纳科

产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
**薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 510×589×350 mm
样品杯尺寸(10个):40.7×26mm
重量:55Kg
x射线荧光光谱仪帕纳科
PM2.5大气重金属在线分析仪 
仪器概述:
全天候PM2.5大气重金属在线分析仪是天瑞公司经过多年研发,采用国内天瑞的二次靶技术,利用X射线荧光原理和过滤溥膜收集PM2.5颗粒技术,搭载天瑞的VisualFP基本参数法分析软件,快速准确检测大气PM2.5颗粒中微量重金属含量。
应用领域:
大气质量监测
空气颗粒物重金属含量分析
污染源定位、溯源
性能优势:
1.目前国内只有天瑞拥有完整的二次靶技术。
2.采用两个二次靶就可以对PM2.5颗粒物中的重金属进行分析,光管靶材采用Rh靶,Mo靶测试(S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb),Gd靶测试(Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba)等。
3.空气收集采用双通道切割器,可对大气颗粒物浓度进行同源双路(PM2.5和PM10)连续监测,将空气收集后富集在滤膜上形成Φ11mm左右的斑点。
4.对滤膜样品无损检测,可保存。
5.天瑞的VisualFp基本参数法分析软件,*标准样品标定,即可对收集的滤膜样品进行重金属含量分析。
6.全天候长时间*人员监守。
7.采用工业级电子电气防雷设计标准,可有效防止雷击损伤。
8.软件可自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度
9.三重射线防护(软件、硬件、迷宫设计),确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害
10.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合多种统计及格式要求
11.软件对多次测试结果进行统计分析功能。
技术指标:
1.应用:全天候连续自动采样;测定空气中颗粒固体物中的重金属;
2.适用标准:美国EPA IO 3.3(《X射线荧光光谱法检测环境颗粒物种重金属》);
3.测量范围:0-1000ug/m3;
4.检出限0.1ug/m3(采样时间60min、流速:16.7 L/min)
5.采样流速:16.7 L/min(升/秒钟);
6.采样分析时间间隔:60分钟或根据需要调整,但不得低于30分钟;
7.监测元素:S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba等24种,可扩展;
8.软件采用方法:FP法
9.报表输出:EXCEL或PDF可选,报告附空气质量变化趋势图;
10.通讯接口:RS232/485,USB;
11.工作环境温度:15-30℃;
12.工作环境相对湿度: ≤85%(不结露)
13.供电电源:220V±10%,50/60HZ
x射线荧光光谱仪帕纳科
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
x射线荧光光谱仪帕纳科
X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用?
(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品,同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。
(2) 铜块作用一是作能量校正,二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响?
(1) 原子序数较低的元素(或基体)对能量较高的谱线吸收系数较低,因此无限厚度也就大一点
(2) Sb的K线能量较高,能穿透厚的样品(相对本样品中的其他元素的特征射线),所以饱和厚度也就比其他元素厚。
23.进行合金分析的时候,比如测定硅锰中的si时,用什么进行校正要好些呢?
(1) 用含Si量接近待测合金中Si含量的合金标样校正。
(2) 基体校正这个说法不正确。如果说基体校正的话,我想你所做的试样中只有锰和铁能对其构成基体上的影响。
实际上,你可能是由于线性不好,所以觉得应该做“基体校正”。
原因是:
A、可能是定值还得在准确一些。
B、制样上的偏差比较大。
其中二条比较主要。那没有办法,自己解决。
http://rohsyiqi.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第680668位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图