X-ray测厚仪 镀层测厚仪薄膜厚度测量仪 江苏天瑞仪器
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
*要制样,不需要化学品,样品处理过程简单,测试成本很低
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