探测器分辨率140ev
环境温度16-36摄氏度
测试精度RSD0.05%
重复性0.05%
仪器尺寸800x600x100
一、主要技术参数:
1、分析方法:光电比色分析法
2、量程范围:0-1.999A吸光度值,0-浓度值
(以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn:0.010~18.00% P:0.0005~2.000% Si:0.010~6.000% ΣRE:0.010~0.500%
Mg:0.010~0.200% Cr:0.01~28.000% Ni:0.010~30.000% Mo:0.010~7.000%
Ti:0.010~5.000%
3、测量精度:符合GB/T223标准
4、可测元素:硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等。
二、主要特点:
1、程序采用目前流行的VC6.0语言编制而成,各种功能的操作及显示均采用在主屏幕上弹出所需功能窗口的做法,使操作者感到层次清楚、一目了然。
2、仪器测试过程自动校准,保证测量精度,内置多条曲线,可满足多种元素的分析需要。仪器的内存大,可测元素多。
3、仪器建立了的数据库,用于分析结果数据和曲线的打印、储存及查询,其数据及曲线的修改和增删均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析仪的所有功能。

仪器特点:仪器机电一体微机化设计,简洁美观。

EDX3200S X荧光硫元素分析仪仪器特点:
10、漏油严密防护,样品杯置于防漏油部件上,只有在试样分析时才移动到测量位置;
11、安全的X射线防护措施:仪器的探测系统周围有严密的防护措施,防止X射线泄露,对个人和群体X射线电离伤害。

EDX3200S X荧光硫元素分析仪技术参数:
• 单样品自动测量,测量结束给出平均值和标准偏差;
• 校正曲线数:仪器可存取10条标定曲线;
• 工作条件:温度10~30℃;相对湿度:≦85%(30℃);
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