x荧光光谱仪 镀锌层膜厚测量国家标准 生产天瑞仪器
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
检测部位可见
通过设置大型观察窗、修改部件布局,使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位。
镀锌层膜厚测量国家标准
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