天瑞仪器生产 x荧光膜厚仪 环氧镀层
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
纯物理测量,与样品的化学组份、化学态无关
环氧镀层
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