材料元素分析仪 x射线荧光光谱仪 天瑞仪器厂家
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产品描述

探测器分辨率140ev 环境温度16-36摄氏度 测试精度RSD0.05% 重复性0.05% 仪器尺寸800x600x100
美国Amptek原装进口SDD探测器
数字多道分析器
放大电路、高低压电源、X光管
计算机、打印机、真空泵(选配)、稳压电源(选配)
材料元素分析仪
注意事项:待测样品硫含量测量完,应立即取走已装进待测样的样品杯,防止待测样漏油造成防漏油部件被污染,影响下一个待测样硫含量的准确分析;
材料元素分析仪
EDX3200S  X荧光硫元素分析仪技术参数:
•  检出限: 10ppm;
•  油品量:3ml~5ml;粉末样品:3克
•  测量时间:30、60、90、120、150秒,任意设定;
材料元素分析仪
设备可以有效的对检测、镉、铅、、铜、锌、镍、钴、钒等引起土壤及固废污染:主要来自厂矿排放的含废水,能在土壤中长期存在;镉、铅污染主要来自冶炼排放和汽车废气沉降,如公路两侧的土壤易受铅的污染;土壤的污染主要来自大量用作、剂、 杀鼠剂、除草剂和硫化矿产的开采、选矿、冶炼。
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