x射线荧光光谱仪器 X光谱分析仪 天瑞仪器生产
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制,多点连续测试
x射线荧光光谱仪器
X荧光光谱技术的发展
1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪,这是中国次引进X荧光光谱分析仪。 1895年,德国物理学家伦琴发现了X射线。 1896年,法国物理学家乔治发现了X射线荧光。 1948年,弗里德曼和伯克斯研制了台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪。
1969年,美国海军实验室研制真正意义上的EDXRF光谱仪。从上面的X荧光光谱仪的初始发展过程来看,荧光光谱分析仪这项技术比较年轻,从发现X射线荧光到出现X射线荧光光谱分析仪都不过一**,后应用到各种领域中的时间也才几十年。同样,我国X荧光光谱分析也是光谱分析领域中较年轻的分析手段之一,1959年,我国请苏联来华在应化所举办了x光谱学习班,随后,我国不断开展X荧光光谱学习班,为之后中国X荧光光谱分析技术打好了基础。
1981年,我国X光谱分析工作者出版了自己编著的书籍,由此可见,在这些年中,我国研究X荧光光谱的学者们做了不少的工作。
从上,我们知道了很多厂家都喜欢购买进口光谱仪,还了解我国引进台X荧光光谱仪后的发展,明明前后研制的时间差不多,几年的差距为什么技术差别那么大,我们是否真正克服了这项技术。1959年,我国研制了台X荧光光谱分析仪,但是这是大型的X荧光光谱分析仪(我们现在购买的X荧光仪器都是手持式的,方便易携带)。当年有单位购买了国产的大型X荧光光谱仪后,不仅所发挥的作用不大,还经常发生故障,不能充分发挥作用,因此,我国X荧光光谱分析发展受到了影响,大部分工作还是用进口仪器完成。 在X荧光光谱仪的研制与投产上学者与研制者们集聚力量,对X荧光光谱技术进行分析,之后的成果斐然。北京师范大学在X荧光光谱分析在表面微区,微试样的分析中做出了开创性的工作。王燕,赵敏等学者对X荧光强度与含量的线性关系进行了分析,并对定量分析方法进行了模拟运算,总结了优的计算方法。周云泷等学者通过计算机软件分析计算,对一些微量元素进行分析,达到较为满意的分析结果。之后的一些研究因篇幅原因不再一一概述,但之后越来越多的学者们都为X荧光光谱分析付出了努力。
x射线荧光光谱仪器
测量元素范围:硫(S)~铀(U)
测量时间:1s或以上
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
含量范围:2ppm~99.9%
稳定性:0.02%
管压:5~50KV
管流:≤1000uA
探测器:X-SDD探测器,分辨率可达125eV
准直器:8种准直器自动切换
滤光片:4种滤光片自由切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70%
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
x射线荧光光谱仪器
x荧光光谱仪主要特点
1.检测对象:液体/固体/粉末-固体样品:点射配件-液体样品:样品池配件,适用于8mm瓶,NMR管和MP管 
2.显微镜:可选显微镜配件
3.便携式:-重量轻-远程控制-蓝牙无线数据传输(或USB)-电池可持续运作5小时-数据库可无限扩充 
4.**小的高性能光谱
5.120mW激发光源,功率可变
6.荧光成像可选
7.达到限衍射的成像和光谱
8.数据库可无限扩展
http://rohsyiqi.b2b168.com
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