X-ray测厚仪针对镀层厚度测量而精心设计的新型仪器,已经成为电力行业,PCB行业,贵金属饰行业的镀层分析的常规手段,比传统的电解法测厚仪具有快的测试速度和分析精度,也比切片法具有快的分析效率测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
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