探测器分辨率140ev
环境温度16-36摄氏度
测试精度RSD0.05%
重复性0.05%
仪器尺寸800x600x100
EDX3200S X荧光硫元素分析仪技术参数:
• 单样品自动测量,测量结束给出平均值和标准偏差;
• 校正曲线数:仪器可存取10条标定曲线;
• 工作条件:温度10~30℃;相对湿度:≦85%(30℃);
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应用于土壤污染物进行原位测试与修复分析中,应用于各类地质中,检测样品包括矿渣、岩石、泥土、泥浆,特别关注在标准中所关注的15大重金属元素,可以根据客户要求针对元素进行定制。样品形态可以为固体、液体、粉末等。
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EDX3200S X荧光硫元素分析仪技术参数:
• 电源:AC220V±20V,50Hz/60hz,额定功率:50W;
• 尺寸和重量:长460mm×宽260mm×高260mm;11kg;
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土壤重金属分析仪是天瑞仪器结合20年X荧光研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的,全新一测土壤重金属的XRF产品。通过系列不同产品,可以满足各类客户需求,还能用于车载式检测。
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