深圳天瑞仪器 无损测厚仪 镀层膜厚测量
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
X测试过程大部分由仪器完成,人员劳动强度低。
镀层膜厚测量
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