探测器分辨率140ev
环境温度16-36摄氏度
测试精度RSD0.05%
重复性0.05%
仪器尺寸800x600x100
特精密的光学系统
采用中阶梯光栅-棱镜交叉色散方式,的光学优化设计使得光通量化的同时保证了优异的光谱分辨率;无任何光学元件,保证了良好的长期稳定性;杂散光设计配合特的光学设计,大大降低了背景光的干扰,进一步提高检出限;的氮气分布式吹扫光室配合的光学元件保证了深紫外区特别是P、S、As等元素的测量。
EDX3200S X荧光硫元素分析仪使用注意事项
(1)标定好的仪器开机后,预热30分钟才可进行含量测量等工作;
(2)待测样品应倒在样品杯,不要沿杯壁倒入样品杯中,不能倒在样品杯体外;
(3)装进待测样的样品杯,一定要放进样品台板上防漏油部件里,才可进行含量分析;
(4)待测样品硫含量测量完,应立即取走已装进待测样的样品杯,防止待测样漏油造成防漏油部件被污染,影响下一个待测样硫含量的准确分析;
(5)为避免防漏油部件被灰尘等污染,在未分析样品期间,应在其上盖上保洁罩;
(6)样品杯为一次性使用,防漏油部件膜上目视到漏油溢出,应立即换防漏油部件膜;
(7)严禁将待测样,特别是可燃性液体泄露或洒入分析仪器内;
(8)一般情况下不必关仪器电源,仪器可以24h连续运行,较长时间不分析样品,请从样品台板上取下并保管好防漏油部件。
(9)仪器长期不用,应放在干燥清洁处,以防止湿气腐蚀。
一、主要技术参数:
1、分析方法:光电比色分析法
2、量程范围:0-1.999A吸光度值,0-浓度值
(以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn:0.010~18.00% P:0.0005~2.000% Si:0.010~6.000% ΣRE:0.010~0.500%
Mg:0.010~0.200% Cr:0.01~28.000% Ni:0.010~30.000% Mo:0.010~7.000%
Ti:0.010~5.000%
3、测量精度:符合GB/T223标准
4、可测元素:硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等。
二、主要特点:
1、程序采用目前流行的VC6.0语言编制而成,各种功能的操作及显示均采用在主屏幕上弹出所需功能窗口的做法,使操作者感到层次清楚、一目了然。
2、仪器测试过程自动校准,保证测量精度,内置多条曲线,可满足多种元素的分析需要。仪器的内存大,可测元素多。
3、仪器建立了的数据库,用于分析结果数据和曲线的打印、储存及查询,其数据及曲线的修改和增删均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析仪的所有功能。
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
测量对象状态:粉末、固体、液体
同时分析元素:30种元素同时分析
元素含量分析范围:1ppm-
能量分辨率为:140±5ev
测量时间:60s-200s(可调)
制冷方式:电制冷,*任何耗材
环境温度:10℃-30℃
环境湿度:35%-70%
输入电压:AC 110V/220V
管压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
样品腔尺寸:334×500×80mm
外观尺寸:670×533×855 mm
重量:80kg
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