上照式多功能自动微区 X 荧光膜厚测试仪深圳天瑞仪器

工作原理：利用 X 射线对金属表面进行激发，检测荧光强度来换算成金属表层的厚度。

性能优势

满足多样测试需求：可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。

微小测试点分析：配备 φ0.1mm 的小孔准直器，能满足微小测试点的需求。

定位测试点：移动平台可测试点，重复定位精度小于 0.005mm。

自动定位测试高度：采用高度定位激光，可自动定位测试高度，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，点击位置即为被测点。

分析结果：高分辨率探头使分析结果加。

射线屏蔽良好：具有良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护，使用。

技术参数

元素分析范围：硫（S）至铀（U）。

同时检测元素：多可同时分析 24 种元素，5 层以上涂层。

分析含量：一般为 2ppm 至 99.9%。

涂层厚度：一般小于 50μm（不同材料有所不同）。

探测器：Si - Pin 探测器，能量分辨率 135eV。

准直器：0.3×0.05mm，φ0.1mm，φ0.2mm 和 φ0.3mm collimator 组合。

温度要求：15℃至 30℃。

电源：交流 220V±5V，建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸：576（W）×495（D）×545（H）mm。

样品室尺寸：500（W）×350（D）×140（H）mm。

重量：90kg。

应用领域：主要用于贵金属加工和饰加工行业、银行、饰销售和机构、电镀行业，可对、铂、银等贵金属和各种饰进行含量检测，也可用于金属镀层的厚度测量以及电镀液和镀层含量的测定。