x荧光测厚仪 镀金层测厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
镀层测厚仪关键有以下功能优点:
1、测量速度快,具有单次和连续2种测量方式可选择;
2、精度高 ,自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质;
3、镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示;
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法:覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
镀金层测厚仪
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