银触点镀层 天瑞仪器生产 x射线膜厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
清晰的样本图像
使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头,采用全数码变焦,从而消除位置偏差,可以清晰地观察数十μm的微小样本。
另外,亦采用LED作为样本观察灯,*像以往的机型那样对灯泡进行更换。
电镀层膜厚仪Thick800A:
银触点镀层
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http://rohsyiqi.b2b168.com
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