能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
探测器SDD
含量范围ppm--99.99%
电源电压220V
分析时间200秒左右
检测限1ppm(基材不同有所变化)
测量元素范围：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9%
稳定性：0.02%
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片自由切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
合金测试**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
作为一种比较成熟的成分分析手段，X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，如各种矿石，由于直接分析技术目前还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分。
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
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