mikrotest镀层测厚仪 x荧光厚度测量仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
镀层厚度测试机构、检测目的:及时了解供应商产品质量。检验制造商真实情况、不定期抽检、**质量可靠性。
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