x射线荧光光谱仪检出限 天瑞仪器生产 能量色散x射线荧光光谱仪

精密的定位系统
**高清晰工业摄像头，清晰的显示测试点

贵金属回收
决定玩具质量优劣的因素包括原材料的选取、生产环节的以及终端产品的质量检测等。但目前的玩具企业在生产环节中，力度不力。众所周知，近广东一玩具厂生产的玩具因铅含量**标问题被召回，老板闻讯，该玩具厂使用上游供应商的“无铅油漆”前没有进行再检测，以及对玩具成品缺乏必要检测都是造成这起悲剧的直接原因。
调查显示，像上述玩具厂这类情况在的玩具企业普遍存在，目前玩具安全形势不容忽视。在对一些中、小型玩具企业的采访中了解到：除了部分中小企业忽视玩具生产过程的“绿色”外，部分企业对生产过程“绿色”的成本过高感到力不从心，一台检测仪器动辄都是四五十万，甚至上百万的昂贵设备望而却步，如果再加上维护成本和使用成本，这些企业是不堪重负。
随着玩具行业的发展，玩具安全法规在全世界范围内不断完善，如欧盟的《玩具安全指令》、美国的玩具安全标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具安全标准。这些安全标准对于玩具企业来说，执行这些标准责无旁贷；至于说到管控成本过高的问题，其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具安全检测设备，X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
仪器介绍
性能特点
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
自动滤光片选择
多种准直器自动自由切换
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
样品腔自动开关
软件定位样品平台，小位移 0.01 mm
自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
特别开发测量软件，操作界面十分友好
内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击
的自动平台，方便地调节样品位置
配合自动平台全新开发的样品定位系统，实现“点”哪测哪
鼠标轻点样品视图中需要检测部位，将样品至位置，完成检测。
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
元素含量分析范围为1 PPm到
RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达1PPM；
测量时间：60-200秒
能量分辨率为155±5电子伏特
管压：5~50KV
管流：50~1000μA
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
三维自由度**大的样品腔设计，样品腔尺寸：Φ450 x 90 mm
一次可同时分析24个元素
重量：110 kg
标准配置
样品平台
加强金属元素感度分析器
放大电路
信噪比增强器（SNE）
计算机、喷墨打印机
应用领域
电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测

1、压片法压片法是将经过粉碎或研磨的样品加压成形的制样方法。压片法的制样流程粉末样品加压成型
（1）优点：
①制样简便，速度快，适合大生产和快速分析
②制样设备简单，主要是磨粉机，压片机和模具等。
③可用于标准加入法和高、低倍稀释以减少基体效应。
④比起松散样品，将粉末样品压片能减小表面效应和提高分析精度。
（2）不足：不能有效消除矿物效应和完全克服粒度效应。一般用于控制生产，而不用于样品成分的定值。
（3）制样过程中应注意的事项：
①样品要烘干。
②样品经过粉碎要达到一定的粒度并均匀。
③标准样品和分析样品制样时的压力和保压时间要一致。
④卸压速度不要太快，要匀速下降。
⑤保持粉碎的容器和压片的模具清洁，防止样品间的相互沾污。
⑥装料密度要一致。
可以采用以下方法来减少粒度效应：
①研细到不存在粒度效应的程度；
②对所有试样和标样采用标准化的研磨方法，使它们基本上具有相同的粒度或粒度分布；
③干法稀释。稀释剂粉末与含有分析元素的颗粒对初级和分析线束的质量吸收系数好要相似；
④在高压力下压制成块；
⑤数学方法校正；
（4）助研磨剂助研磨剂的作用主要是提高研磨效率及克服细磨时的附聚现象，提高均匀性和防止样品在粉碎时粘附在粉碎容器上。
常用的助研磨剂有:
②
 体的如、乙二醇、三胺和正己烷等，具有可烘干易挥发的优点；
②固体的如各种硬脂酸等。另外，助研磨剂还能减少和延迟在粉碎和研磨过程中样品颗粒的重新团聚现象。
（5）粘结剂粘结剂的主要作用是使一些内聚力比较差的粉末样品在制样中增加粘结性能。加入粘结剂有以下几个优点：
①内聚力很低的粉末也可以制成结实的压块；
②对粒度和密度不均匀的粉末加入粘结剂，装样时和压片时可得到较好均匀性；
③可以得到较高的堆积密度和较光滑的表面；
④由于稀释，减少了吸收-增强效应。但是加入粘结剂也有一些缺点，由于加入的粘结剂大多是轻基体，低吸收稀释剂，能减少基体效应。但会使散射背景有所增加，另外分析元素的测量强度会有所下降，对痕量元素不利，使轻元素的灵敏度下降。同时，制样时间有所增加。常用固体的粘结剂有甲基纤维素、微晶纤维素、、低压聚乙烯、石蜡、淀粉、干纸浆粉等；常用的液体粘结剂有，其优点是液体可以挥发，样品中的残留量可忽略。使用粘结剂要注意其纯度，不能含有明显的干扰元素；且性质稳定不易吸潮、风干，经X 射线照射不易破碎；必须定量加入，加入量一般为总重量的2%~10%。
（6）添加剂为了校正吸收-增强效应可添加内标。内标的粒度必须与试样粒度相同，或者把它们掺到一起再进行研磨。好是以溶液形式加入内标，即可把内标溶液与试样粉末均匀混合起来。为减少吸收-增强效应，可添加低吸收稀释剂，如碳酸锂，，碳，淀粉等，对于轻基体分析元素的粉末样品，为使校准曲线加接近直线，可添加高吸收缓冲剂，如氧化镧或钨酸。为便于研磨，可添状惰性磨料，如氧化铝，碳化硅。用研钵研磨粉末时，经常使用这种方法。如果待混合的种粉末的粒度都很小，或它们的粒度、形状、密度都基本相同，则可直接以干粉形式进行混合；如果粉末较粗，或粒度和形状不同，则必须在混合前分别加以研磨，或者混合后一起加以研磨。如果密度差别很大，则可以把一定体积的重成分标准溶液加入经过称重的轻成分粉末。
（7）衬底为避免粘结剂的加入降低强度，或只有少量的粉末样品时，可采用镶边衬底压片。
（8）研磨工具可用玛瑙、碳化硅、碳化硼研钵进行手工研磨。可以干磨，也可以加入或，研磨至干，如此反复几次。好还是用磨样机进行研磨。压片时，粒度越小，分析线强度就越高；粒度一定时，压力越高，分析线强度就越高。使用粘结剂或稀释剂，会使强度随粒度增加而减小的效应变得明显，而使强度随压力而的效应变弱。

X射线荧光光谱仪（XRF）具有谱线简单、不破坏样品、操作简便、测定迅速等优点，广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、、考古、难融化物和建材工业等领域。但因为XRF操作简便的优点，使得现在一些“不求甚解”的使用者，只会使用，缺乏对于XRF的基础知识。你得懂XRF的原理么？你知道XRF的分类么？你知道各类XRF有什么优势么？
下面为大家一一解答：
XRF的原理是什么？
X射线荧光（XRF），顾名思义，利用了X射线和荧光技术，当原级X射线照射在待测样品上，产生的次级X射线叫X射线荧光，通过分析荧光的波长和能量对物质进行成分和化学形态的分析。XRF理论上可以测定元素周期表中所有的元素，但是在实际应用中，一般有效的元素测量范围为从铍（Be）到铀（U）的90余种元素。
XRF的分类有哪些？
XRF根据原理不同主要分为两类：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），其根本区别在于检测方法的不同：
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF），简称为波散型XRF，其原理是将X射线荧光通过晶体或人工拟晶体将不同能量的谱线分开，然后进行检测。通过谱线的波长进行定性分析，通过能量的强度进行定量分析。
波散型XRF
能量色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），简称能散型XRF，没有复杂的分光系统，X射线荧光直接进入探测器，再经放大器放大成形后进入多道脉冲幅度分析器，将不同能量的脉冲分开并处理，就可以对能量范围很宽的X射线谱同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。
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