较薄可测试0.005um
较多可测试层数5层
原理X荧光光谱
检测器类型SDD探测器
算法FP基本参数
探险者EXPLORER手持式X荧光分析仪是天瑞仪器结合10年手持XRF技术研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,具有自主知识产权的全新一代手持XRF产品。
EXPLORER 5000T手持式XRF镀层厚度分析仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持镀层测厚分析仪。EXPLORER 5000T可对大面积镀层产品进行膜厚分析,仪器不仅体积小、重量轻,可随身携带进行测量;而且性能,堪比台式机。
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