较薄可测试0.005um
较多可测试层数5层
原理X荧光光谱
检测器类型SDD探测器
算法FP基本参数
对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点:
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率优于135eV,测试精度高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用加方便,并且运行成本比同类的其他产品低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
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