厂家天瑞仪器 x射线荧光光谱仪结构 波长色散x荧光光谱仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
测量元素范围:硫(S)~铀(U)
测量时间:1s或以上
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
含量范围:2ppm~99.9%
稳定性:0.02%
管压:5~50KV
管流:≤1000uA
探测器:X-SDD探测器,分辨率可达125eV
准直器:8种准直器自动切换
滤光片:4种滤光片自由切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70%
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
x射线荧光光谱仪结构
x荧光光谱仪样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。 
(1)固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。
(2)粉末样品包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。
(3)液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等
x射线荧光光谱仪结构
方法应用
①粉末压片法分析痕量元素
粉末压片法多用于分析痕量元素配合熔融法分析主量元素。
②粉末压片法分析主、次、痕量元素
粉末压片法也常用于地质、化探、冶金等样品的全分析。
③熔融后再粉碎压片
熔一块均匀、表面光滑的融片是一项技巧性很强的工作,有些样品不易脱模或容易碎裂,有的对Pt-Au坩埚有腐蚀作用,熔融后粉碎压片的方法(可用石墨坩埚代替Pt-Au坩埚)既可消除颗粒度效应的影响,又解决了不易成型的问题。熔融后再粉碎压片来测定地质试样中的全硫,这样可减小粉末样片保存过程中硫价态变化对分析准确度的影响。
一般来说,对于煤、水泥、岩石、土壤等样品的常规分析,用粉末压片法可达到分析精度和准确度为5%左右的要求。大多数痕量元素的检出限可达100μg/g左右,因X荧光光谱仪有较好的稳定性,还可通过延长计数时间使检出限进一步降低。用粉末压片法制样,结合自动进样装置和自动化分析仪,一次即可准确地分析20-30种元素,完全可以满足地质、矿产、商检等部门的分析需要。
如前所述,粉末压片是根据一定的分析对象进行试验,以选择制样条件,包括各种添加剂的使用、粉碎时间、压力、标样的选取等。这样造成的结果是,对一种分析对象提出的方法不能应用到其它试样中去。关键是尚未找到一种实用有效的粉碎技术,可将粉末试样碎至1-2μm,这种粉碎技术要简单易行,否则就失去了X荧光光谱仪分析快速方便的特点。
x射线荧光光谱仪结构
EDX6000B 是天瑞仪器新研发的一款仪器,针对于水泥行业,矿产行业等研发出来的,内置自动移动转盘,可同时测试多个样品,操作简单方便
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