天瑞仪器生产 x荧光光谱仪 x射线镀层测厚仪检测
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
利用天瑞仪器的explorer5000镀银层测厚仪分析一系列铜镀银样品,所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996,线性相关性非常好。当银厚度为1-30 μm 范围内,测量值与标称值平均误差为0.6 μm, 30-60 μm 范围内平均误差为 1.3 μm,相对误差小于4%,在可接受范围以内,测厚范围可达1-60 μm。
x射线镀层测厚仪检测
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