原子吸收光谱 荧光多元素分析仪 上市公司荣誉出品

EDX3200S  X荧光硫元素分析仪技术参数:
•  测硫范围:0.005%～5%;
•  重复性(r):＜0.02894(S+0.1691);
典型值：硫含量为1%的样品，测量时间90秒，重复3次，r≤0.02%
•  再现性(R):＜0.1215(S+0.05555); 
典型值：硫含量为1%的样品，测量时间90秒，重复3次，R≤0.05%

**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
钢铁行业测试配件
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头

仪器特点：仪器数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数可查。

产品型：EDX 4500
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
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