X荧光光谱仪分析仪 x射线荧光光谱分析仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
EDX合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试开发的仪器类型。
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
x射线荧光光谱分析仪
型号:3600B
仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
(4)型号:HD1000
仪器介绍
XOS公司的HD1000仪器为rohs和涂层表面的有害物质、重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理,有效的降低了测试背景,使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面,操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。
性能特点
单键操作,简单方便
采用业界的聚光装置,x荧光曲面晶体进行聚光处理
通过使用晶体产生单色光,进行测试,明显减少检测背景干扰。
通过聚光处理,有效降低光管功率的80%,大大延长了光管使用寿命
HD分析仪可分别测定涂层和基体中的铅含量(和其它9种有害元素)――一次完全测定。
测试面积1mm,产品上小的特征也能充分测定。
测试精度和准确性不受表面光滑度和产品形状的影响――光滑或不规则,平面或曲面。
HD 1000分析仪能可靠地测定CPSIA规定中涂层或基体的新标准以下。
分析仪可测试成品、部件或原材料中的铅含量――样品可以是粉末或液体。
HD 1000采用的是无损分析技术,对测试样品不造成任何破坏。
**的简易操作,仪器可以放在工厂地板上,成品库中或试验室里实用。
所有含铅材料都可以有效测定:塑料、木材、金属、纺织品、纸张、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析仪的每一个细节和特点均是为达到玩具和儿童用品业的要求而设计和优化的。
x射线荧光光谱分析仪
合金测试**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构,力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
x射线荧光光谱分析仪
X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用?
(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品,同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。
(2) 铜块作用一是作能量校正,二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响?
(1) 原子序数较低的元素(或基体)对能量较高的谱线吸收系数较低,因此无限厚度也就大一点
(2) Sb的K线能量较高,能穿透厚的样品(相对本样品中的其他元素的特征射线),所以饱和厚度也就比其他元素厚。
23.进行合金分析的时候,比如测定硅锰中的si时,用什么进行校正要好些呢?
(1) 用含Si量接近待测合金中Si含量的合金标样校正。
(2) 基体校正这个说法不正确。如果说基体校正的话,我想你所做的试样中只有锰和铁能对其构成基体上的影响。
实际上,你可能是由于线性不好,所以觉得应该做“基体校正”。
原因是:
A、可能是定值还得在准确一些。
B、制样上的偏差比较大。
其中二条比较主要。那没有办法,自己解决。
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