生产天瑞仪器 x荧光测厚仪 镀层测试仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
铜箔镀层厚度检测,光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测,
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