能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
探测器SDD
含量范围ppm--
电源电压220V
分析时间200秒左右
检测限1ppm(基材不同有所变化)
x荧光光谱仪主要特点
1.检测对象:液体/固体/粉末-固体样品:点射配件-液体样品:样品池配件,适用于8mm瓶,NMR管和MP管
2.显微镜:可选显微镜配件
3.便携式:-重量轻-远程控制-蓝牙无线数据传输(或USB)-电池可持续运作5小时-数据库可无限扩充
4.**小的高性能光谱
5.120mW激发光源,功率可变
6.荧光成像可选
7.达到限衍射的成像和光谱
8.数据库可无限扩展

元素分析范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:ppm—(不同材质,分析范围不同)
同时分析元素:同时可以分析30种以上元素
检测限:RoHS指令规定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限高达ppm级
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度:≤70%
工作电压:AC 110V/220V

X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法,通过X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品;受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线(二次X射线)——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性(莫塞莱定律),这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量,通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。

测量元素范围:硫(S)~铀(U)
测量时间:1s或以上
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
含量范围:2ppm~99.9%
稳定性:0.02%
管压:5~50KV
管流:≤1000uA
探测器:X-SDD探测器,分辨率可达125eV
准直器:8种准直器自动切换
滤光片:4种滤光片自由切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70%
环境温度:15℃~30℃
电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
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