天瑞仪器生产 x射线荧光光谱仪用途

X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用？
(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。
(2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？
(1) 原子序数较低的元素（或基体）对能量较高的谱线吸收系数较低，因此无限厚度也就大一点
(2) Sb的K线能量较高，能穿透厚的样品（相对本样品中的其他元素的特征射线），所以饱和厚度也就比其他元素厚。
23.进行合金分析的时候，比如测定硅锰中的si时，用什么进行校正要好些呢？
(1) 用含Si量接近待测合金中Si含量的合金标样校正。
(2) 基体校正这个说法不正确。如果说基体校正的话，我想你所做的试样中只有锰和铁能对其构成基体上的影响。
实际上，你可能是由于线性不好，所以觉得应该做“基体校正”。
原因是:
A、可能是定值还得在准确一些。
B、制样上的偏差比较大。
其中二条比较主要。那没有办法，自己解决。

1、压片法压片法是将经过粉碎或研磨的样品加压成形的制样方法。压片法的制样流程粉末样品加压成型
（1）优点：
①制样简便，速度快，适合大生产和快速分析
②制样设备简单，主要是磨粉机，压片机和模具等。
③可用于标准加入法和高、低倍稀释以减少基体效应。
④比起松散样品，将粉末样品压片能减小表面效应和提高分析精度。
（2）不足：不能有效消除矿物效应和完全克服粒度效应。一般用于控制生产，而不用于样品成分的定值。
（3）制样过程中应注意的事项：
①样品要烘干。
②样品经过粉碎要达到一定的粒度并均匀。
③标准样品和分析样品制样时的压力和保压时间要一致。
④卸压速度不要太快，要匀速下降。
⑤保持粉碎的容器和压片的模具清洁，防止样品间的相互沾污。
⑥装料密度要一致。
可以采用以下方法来减少粒度效应：
①研细到不存在粒度效应的程度；
②对所有试样和标样采用标准化的研磨方法，使它们基本上具有相同的粒度或粒度分布；
③干法稀释。稀释剂粉末与含有分析元素的颗粒对初级和分析线束的质量吸收系数好要相似；
④在高压力下压制成块；
⑤数学方法校正；
（4）助研磨剂助研磨剂的作用主要是提高研磨效率及克服细磨时的附聚现象，提高均匀性和防止样品在粉碎时粘附在粉碎容器上。
常用的助研磨剂有:
②
 体的如、乙二醇、三胺和正己烷等，具有可烘干易挥发的优点；
②固体的如各种硬脂酸等。另外，助研磨剂还能减少和延迟在粉碎和研磨过程中样品颗粒的重新团聚现象。
（5）粘结剂粘结剂的主要作用是使一些内聚力比较差的粉末样品在制样中增加粘结性能。加入粘结剂有以下几个优点：
①内聚力很低的粉末也可以制成结实的压块；
②对粒度和密度不均匀的粉末加入粘结剂，装样时和压片时可得到较好均匀性；
③可以得到较高的堆积密度和较光滑的表面；
④由于稀释，减少了吸收-增强效应。但是加入粘结剂也有一些缺点，由于加入的粘结剂大多是轻基体，低吸收稀释剂，能减少基体效应。但会使散射背景有所增加，另外分析元素的测量强度会有所下降，对痕量元素不利，使轻元素的灵敏度下降。同时，制样时间有所增加。常用固体的粘结剂有甲基纤维素、微晶纤维素、、低压聚乙烯、石蜡、淀粉、干纸浆粉等；常用的液体粘结剂有，其优点是液体可以挥发，样品中的残留量可忽略。使用粘结剂要注意其纯度，不能含有明显的干扰元素；且性质稳定不易吸潮、风干，经X 射线照射不易破碎；必须定量加入，加入量一般为总重量的2%~10%。
（6）添加剂为了校正吸收-增强效应可添加内标。内标的粒度必须与试样粒度相同，或者把它们掺到一起再进行研磨。好是以溶液形式加入内标，即可把内标溶液与试样粉末均匀混合起来。为减少吸收-增强效应，可添加低吸收稀释剂，如碳酸锂，，碳，淀粉等，对于轻基体分析元素的粉末样品，为使校准曲线加接近直线，可添加高吸收缓冲剂，如氧化镧或钨酸。为便于研磨，可添状惰性磨料，如氧化铝，碳化硅。用研钵研磨粉末时，经常使用这种方法。如果待混合的种粉末的粒度都很小，或它们的粒度、形状、密度都基本相同，则可直接以干粉形式进行混合；如果粉末较粗，或粒度和形状不同，则必须在混合前分别加以研磨，或者混合后一起加以研磨。如果密度差别很大，则可以把一定体积的重成分标准溶液加入经过称重的轻成分粉末。
（7）衬底为避免粘结剂的加入降低强度，或只有少量的粉末样品时，可采用镶边衬底压片。
（8）研磨工具可用玛瑙、碳化硅、碳化硼研钵进行手工研磨。可以干磨，也可以加入或，研磨至干，如此反复几次。好还是用磨样机进行研磨。压片时，粒度越小，分析线强度就越高；粒度一定时，压力越高，分析线强度就越高。使用粘结剂或稀释剂，会使强度随粒度增加而减小的效应变得明显，而使强度随压力而的效应变弱。

元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限高达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V

PM2.5大气重金属在线分析仪 
仪器概述:
全天候PM2.5大气重金属在线分析仪是天瑞公司经过多年研发，采用国内天瑞的二次靶技术，利用X射线荧光原理和过滤溥膜收集PM2.5颗粒技术，搭载天瑞的VisualFP基本参数法分析软件，快速准确检测大气PM2.5颗粒中微量重金属含量。
应用领域:
大气质量监测
空气颗粒物重金属含量分析
污染源定位、溯源
性能优势:
1.目前国内只有天瑞拥有完整的二次靶技术。
2.采用两个二次靶就可以对PM2.5颗粒物中的重金属进行分析，光管靶材采用Rh靶，Mo靶测试（S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb），Gd靶测试（Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba）等。
3.空气收集采用双通道切割器，可对大气颗粒物浓度进行同源双路（PM2.5和PM10）连续监测，将空气收集后富集在滤膜上形成Φ11mm左右的斑点。
4.对滤膜样品无损检测，可保存。
5.天瑞的VisualFp基本参数法分析软件，*标准样品标定，即可对收集的滤膜样品进行重金属含量分析。
6.全天候长时间*人员监守。
7.采用工业级电子电气防雷设计标准，可有效防止雷击损伤。
8.软件可自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度
9.三重射线防护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害
10.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合多种统计及格式要求
11.软件对多次测试结果进行统计分析功能。
技术指标:
1.应用：全天候连续自动采样；测定空气中颗粒固体物中的重金属；
2.适用标准：美国EPA IO 3.3（《X射线荧光光谱法检测环境颗粒物种重金属》）；
3.测量范围：0-1000ug/m3；
4.检出限0.1ug/m3（采样时间60min、流速：16.7 L/min）
5.采样流速：16.7 L/min（升/秒钟）；
6.采样分析时间间隔：60分钟或根据需要调整，但不得低于30分钟；
7.监测元素：S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba等24种，可扩展；
8.软件采用方法：FP法
9.报表输出：EXCEL或PDF可选，报告附空气质量变化趋势图；
10.通讯接口：RS232/485，USB;
11.工作环境温度：15-30℃;
12.工作环境相对湿度： ≤85%（不结露）
13.供电电源：220V±10%，50/60HZ
http://rohsyiqi.b2b168.com