膜厚仪 天瑞仪器生产 镀层测厚仪薄膜厚度测量仪
  • 膜厚仪 天瑞仪器生产 镀层测厚仪薄膜厚度测量仪
  • 膜厚仪 天瑞仪器生产 镀层测厚仪薄膜厚度测量仪
  • 膜厚仪 天瑞仪器生产 镀层测厚仪薄膜厚度测量仪

产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
型:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
镀层测厚仪薄膜厚度测量仪
镀层测厚仪薄膜厚度测量仪
镀层测厚仪薄膜厚度测量仪
http://rohsyiqi.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第758438位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图