x射线衍射荧光光谱仪 XRF
  • x射线衍射荧光光谱仪 XRF
  • x射线衍射荧光光谱仪 XRF
  • x射线衍射荧光光谱仪 XRF

产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
x射线衍射荧光光谱仪
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
x射线衍射荧光光谱仪
**薄窗X光管
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性;
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制;
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
x射线衍射荧光光谱仪
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等)、包装物料的有元素测试、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
http://rohsyiqi.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第676042位访客

版权所有 ©2024 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图