镀层化验 x荧光测厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
铁镀铬 镀锌 镀镍厚度检测等。
镀层化验
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