较薄可测试0.005um
较多可测试层数5层
原理X荧光光谱
检测器类型SDD探测器
算法FP基本参数
镀层测厚仪产品特点:
1、采用了磁性和涡流两种测厚方法,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
2、分体(传感器与仪器之间通过引线连接)、两用(F型N型合一)
3、特的温度补偿算法
4、具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
5、无线蓝牙通信,语音播报读值
6、探头自动识别
7、支持热敏打印,即时报告输出
8、具有统计功能:平均值(MEAN)、值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
9、具有存储功能:可存储500 个测量值。
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