X光谱分析仪 x型x射线荧光光谱仪
  • X光谱分析仪 x型x射线荧光光谱仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
X荧光光谱热电的仪器,检测口放一铜片的作用?
(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品,同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。
(2) 铜块作用一是作能量校正,二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。
22.为什么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响?
(1) 原子序数较低的元素(或基体)对能量较高的谱线吸收系数较低,因此无限厚度也就大一点
(2) Sb的K线能量较高,能穿透厚的样品(相对本样品中的其他元素的特征射线),所以饱和厚度也就比其他元素厚。
23.进行合金分析的时候,比如测定硅锰中的si时,用什么进行校正要好些呢?
(1) 用含Si量接近待测合金中Si含量的合金标样校正。
(2) 基体校正这个说法不正确。如果说基体校正的话,我想你所做的试样中只有锰和铁能对其构成基体上的影响。
实际上,你可能是由于线性不好,所以觉得应该做“基体校正”。
原因是:
A、可能是定值还得在准确一些。
B、制样上的偏差比较大。
其中二条比较主要。那没有办法,自己解决。
x型x射线荧光光谱仪
X荧光光谱仪在铜检测方面的应用方案
 X荧光光谱仪用于各种金属材料中各种化学元素的成分分析。用于原材料检验,冶炼生产过程成分控制,成品元素成分定值及其它应用,以检测铜合金的炉前快速分析和成品分析,控制铜合金中的各成分含量,从而在满足客户的技术要求下控制铜的含量以降低生产成本。
该技术的主要特征为:利用低能量X射线照射测试样品,试样中的一些原子将发射具用自身特征X射线荧光,从而识别这些元素,同时无损检测其含量。天瑞仪器光谱仪采用现代的角度照射及准直器和滤光片自动组合系统,实现了分析光谱的全谱分析。设计的激发光源,使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。的分析性能、短的分析时间、低的运行维护成本、智能化的操作模式,使样品分析简单易行。可以广泛适用于铜合金、铝合金、锌合金、镍合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。X荧光光谱仪是当今金属分析的选择,同时可以轻松面对未来分析的高要求,不添加任何硬件设施,即可升级分析功能,方便灵活地随生产发展的需要增加分析的元素及合金种类。
铜的相关规定 
我国铜及铜合金标准化工作进展迅速,有关铜的标准分为类:
一为基础标准,其中GB5231—2001规定了加工铜及铜合金化学成份及产品形状;
二为化学分析方法标准,规定了铜及合金中主成份和杂质元素的化学分析方法;
三为理化性能试验方法,其中包括了电阻系数、超声波探伤、涡流探伤、残余应力、脱锌腐蚀、无氧铜含氧量、断口、晶粒度等规定方法;
         四为产品标准,其中包括阴铜、电工用铜线锭、铸造黄铜锭、铸造青铜锭、粗铜、硫酸铜、铜铍中间合金、铜中间合金、铜精矿以及铜及合金加工材标准。 
我国除标准外,还有行业标准和企业标准,为满足产品开发的需要,供需双方还可商定技术条件。
x型x射线荧光光谱仪
测量元素范围:硫(S)~铀(U)
检出限:分析检出限可达2ppm,薄可测试0.005μm
元素含量分析范围:2ppm~
探测器:SDD探测器,分辨率低可达125eV
管流:≤1000uA
管压:5~50kV
测量时间:1s或以上(可调)
滤光片:4种滤光片自由切换
准直器:8种准直器自动切换
样品观察:高清工业摄像头
环境湿度:≤70%
环境温度:15℃~30℃
制冷方式:电制冷,*任何耗材
输入电压:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
x型x射线荧光光谱仪
RoHS检测仪属天瑞系列产品中的机型,三重射线防护系统;人性化操作界面;综合应用经验系数法、基本参数法V8.0分析软件。元素测试范围从S-U。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素。可完全满足RoHS/WEEE/无卤相关管控要求。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于多材料的工厂制程控制。
天瑞的谱图对比功能,实时追踪供应商物料发生变化并及时预警,对RoHS/无卤及供应商管控具有无可比拟的优势。
性能优势:
1.三重射线保护(软件、硬件、迷宫设计),确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害;
2.大样品仓设计,相对于传统机型,在小的主机内配置了大空间;
3.采用新型的光路设计,大限度解决了空气光路对测量Cl元素的影响,保证了氯(Cl)元素的检出下限和稳定性;
4.新优化的V8.5分析软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度;
5.业内提供开放式工作曲线标定平台,可为用户量身定做佳的有害物质检测和控制方案;
6.融合了一系列的光谱处理方法,包括FFT(快速傅立叶变换滤波)、的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等;
7.国际的XRF分析软件,融合了包括经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,全面保证测试数据的准确性;
8.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合工厂多种统计及格式要求;
9.可以提供六价铬定量测试技术与附件、镀层测厚和多元素分析软件(用户需另行购置);
10.多语种软件界面可供选择;
11.天瑞的快速谱图对析方法,供应商物料发生变化及时预警功能。
仪器技术指标:
1、仪器尺寸:515(W)x405(D)x350(H)mm
2、样品腔尺寸:380*340*55mm;
3、测试元素范围:S-U中的元素
4、检测范围:1ppm-
5、RoHS检测限:Cd、Cr≦2ppm,Hg、Br≦0.25 ppm, Pb≦1 ppm,Cl≤15ppm
6、测试样品类型:固体、粉末和液体
7、测量时间 :
快速测量:3s(系统自动判断,s)
测量:120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率:见探测系统详细参数说明
9、准直器:Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片:8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察:130万像素高清CCD
12、样品微动范围:XY8mm
13、输入电源:AC220V~240V,50/60Hz
14、额定功率:350W
15、净重:约40Kg
16、工作环境温度:温度15—30℃
17、工作环境相对湿度:≤85%(不结露)
18、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%
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