x射线荧光光谱仪检定用标准物质 波长色散x荧光光谱仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
X荧光光谱仪在铜检测方面的应用方案
 X荧光光谱仪用于各种金属材料中各种化学元素的成分分析。用于原材料检验,冶炼生产过程成分控制,成品元素成分定值及其它应用,以检测铜合金的炉前快速分析和成品分析,控制铜合金中的各成分含量,从而在满足客户的技术要求下控制铜的含量以降低生产成本。
该技术的主要特征为:利用低能量X射线照射测试样品,试样中的一些原子将发射具用自身特征X射线荧光,从而识别这些元素,同时无损检测其含量。天瑞仪器光谱仪采用现代的角度照射及准直器和滤光片自动组合系统,实现了分析光谱的全谱分析。设计的激发光源,使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。的分析性能、短的分析时间、低的运行维护成本、智能化的操作模式,使样品分析简单易行。可以广泛适用于铜合金、铝合金、锌合金、镍合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。X荧光光谱仪是当今金属分析的选择,同时可以轻松面对未来分析的高要求,不添加任何硬件设施,即可升级分析功能,方便灵活地随生产发展的需要增加分析的元素及合金种类。
铜的相关规定 
我国铜及铜合金标准化工作进展迅速,有关铜的标准分为类:
一为基础标准,其中GB5231—2001规定了加工铜及铜合金化学成份及产品形状;
二为化学分析方法标准,规定了铜及合金中主成份和杂质元素的化学分析方法;
三为理化性能试验方法,其中包括了电阻系数、超声波探伤、涡流探伤、残余应力、脱锌腐蚀、无氧铜含氧量、断口、晶粒度等规定方法;
         四为产品标准,其中包括阴铜、电工用铜线锭、铸造黄铜锭、铸造青铜锭、粗铜、硫酸铜、铜铍中间合金、铜中间合金、铜精矿以及铜及合金加工材标准。 
我国除标准外,还有行业标准和企业标准,为满足产品开发的需要,供需双方还可商定技术条件。
x射线荧光光谱仪检定用标准物质
型号:3600B
仪器介绍
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
(4)型号:HD1000
仪器介绍
XOS公司的HD1000仪器为rohs和涂层表面的有害物质、重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理,有效的降低了测试背景,使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面,操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。
性能特点
单键操作,简单方便
采用业界的聚光装置,x荧光曲面晶体进行聚光处理
通过使用晶体产生单色光,进行测试,明显减少检测背景干扰。
通过聚光处理,有效降低光管功率的80%,大大延长了光管使用寿命
HD分析仪可分别测定涂层和基体中的铅含量(和其它9种有害元素)――一次完全测定。
测试面积1mm,产品上小的特征也能充分测定。
测试精度和准确性不受表面光滑度和产品形状的影响――光滑或不规则,平面或曲面。
HD 1000分析仪能可靠地测定CPSIA规定中涂层或基体的新标准以下。
分析仪可测试成品、部件或原材料中的铅含量――样品可以是粉末或液体。
HD 1000采用的是无损分析技术,对测试样品不造成任何破坏。
**的简易操作,仪器可以放在工厂地板上,成品库中或试验室里实用。
所有含铅材料都可以有效测定:塑料、木材、金属、纺织品、纸张、玻璃和陶瓷。
HD 1000分析仪的每一个细节和特点均是为达到玩具和儿童用品业的要求而设计和优化的。
x射线荧光光谱仪检定用标准物质
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
x射线荧光光谱仪检定用标准物质
X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法,通过X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品;受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线(二次X射线)——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性(莫塞莱定律),这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量,通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
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