生产天瑞仪器 X-ray测厚仪 镀层厚度测厚仪
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产品描述

较薄可测试0.005um 较多可测试层数5层 原理X荧光光谱 检测器类型SDD探测器 算法FP基本参数
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
镀层厚度测厚仪
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