天瑞仪器厂家 x荧光光谱仪 炉前元素快速分析仪

一、主要技术参数：
1、分析方法：光电比色分析法
2、量程范围：0-1.999A吸光度值，0-浓度值
(以黑色金属中硅、锰、磷、镍、铬、钼、钛、稀土、镁为例)
Mn：0.010～18.00% P：0.0005～2.000% Si：0.010～6.000% ΣRE：0.010～0.500%
Mg：0.010～0.200% Cr：0.01～28.000% Ni：0.010～30.000% Mo：0.010～7.000%
Ti：0.010～5.000%
3、测量精度：符合GB/T223标准
4、可测元素：硅、锰、磷、铜、镍、铬、钼、钛、稀土、镁、钒、铝、钨、铌等。 
二、主要特点： 
1、程序采用目前流行的VC6.0语言编制而成，各种功能的操作及显示均采用在主屏幕上弹出所需功能窗口的做法，使操作者感到层次清楚、一目了然。
2、仪器测试过程自动校准，保证测量精度，内置多条曲线，可满足多种元素的分析需要。仪器的内存大，可测元素多。
3、仪器建立了的数据库，用于分析结果数据和曲线的打印、储存及查询，其数据及曲线的修改和增删均十分方便。
4、兼容了3A、4A、3AD分析仪的所有功能。

射频发生器技术指标
输入电源：交流220V，电流20A
输出功率：700~1600W
调节精度：2W
频率稳定性：＜0.05%
输出功率稳定性：＜0.1%
匹配方式：自动匹配
电磁场泄漏强度：距机箱30cm处电场强度E：＜0.5V/m

性能优异的探测器
采用大尺寸CID探测器，、成熟、稳定；大面尺寸，**像素；165-900nm范围连续覆盖，一次曝光，全谱显示；非破坏性读取(NDRO) 功能，改善了弱分析线的信噪比，提高了结果的准确性，并且数据采集与分析均优于CCD； 的线性动态范围和与生俱来的抗溢出功能确保任意强弱的谱线可在一次曝光内测量并进行分析，同时为方法选择理想波长提供了灵活性（可选二、三或次灵敏线来排除干扰）。

的波长定位
智能的自动波长校准算法，*进行额外的谱峰校正即可进行测量，保证准确测量的同时节约大量的标液和测量时间。
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