天瑞生产厂家 x荧光射线光谱仪 波长色散x射线荧光光谱仪
  • 天瑞生产厂家 x荧光射线光谱仪 波长色散x射线荧光光谱仪
  • 天瑞生产厂家 x荧光射线光谱仪 波长色散x射线荧光光谱仪
  • 天瑞生产厂家 x荧光射线光谱仪 波长色散x射线荧光光谱仪

产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
PM2.5大气重金属在线分析仪 
仪器概述:
全天候PM2.5大气重金属在线分析仪是天瑞公司经过多年研发,采用国内天瑞的二次靶技术,利用X射线荧光原理和过滤溥膜收集PM2.5颗粒技术,搭载天瑞的VisualFP基本参数法分析软件,快速准确检测大气PM2.5颗粒中微量重金属含量。
应用领域:
大气质量监测
空气颗粒物重金属含量分析
污染源定位、溯源
性能优势:
1.目前国内只有天瑞拥有完整的二次靶技术。
2.采用两个二次靶就可以对PM2.5颗粒物中的重金属进行分析,光管靶材采用Rh靶,Mo靶测试(S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb),Gd靶测试(Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba)等。
3.空气收集采用双通道切割器,可对大气颗粒物浓度进行同源双路(PM2.5和PM10)连续监测,将空气收集后富集在滤膜上形成Φ11mm左右的斑点。
4.对滤膜样品无损检测,可保存。
5.天瑞的VisualFp基本参数法分析软件,*标准样品标定,即可对收集的滤膜样品进行重金属含量分析。
6.全天候长时间*人员监守。
7.采用工业级电子电气防雷设计标准,可有效防止雷击损伤。
8.软件可自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度
9.三重射线防护(软件、硬件、迷宫设计),确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害
10.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合多种统计及格式要求
11.软件对多次测试结果进行统计分析功能。
技术指标:
1.应用:全天候连续自动采样;测定空气中颗粒固体物中的重金属;
2.适用标准:美国EPA IO 3.3(《X射线荧光光谱法检测环境颗粒物种重金属》);
3.测量范围:0-1000ug/m3;
4.检出限0.1ug/m3(采样时间60min、流速:16.7 L/min)
5.采样流速:16.7 L/min(升/秒钟);
6.采样分析时间间隔:60分钟或根据需要调整,但不得低于30分钟;
7.监测元素:S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba等24种,可扩展;
8.软件采用方法:FP法
9.报表输出:EXCEL或PDF可选,报告附空气质量变化趋势图;
10.通讯接口:RS232/485,USB;
11.工作环境温度:15-30℃;
12.工作环境相对湿度: ≤85%(不结露)
13.供电电源:220V±10%,50/60HZ
x荧光射线光谱仪
具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合得奖号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
x荧光光谱仪xrf标准配置
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
合金测试**薄窗X光管
**薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
三重安全保护模式
整体钢架结构,力度可靠的保证
x荧光射线光谱仪
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性; 利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
x荧光射线光谱仪
X荧光光谱仪粉末样品误差主要来源:
(1) 粒度效应 粉末样品粒度效应是指被测量样品中的分析元素的荧光强度变化和样品的粒度变化有关。一般来说,被分析样品的粒度越小,荧光强度越高,轻元素尤甚。原子序数越小,对粒度越敏感;同一元素粒度越小,制样稳定性越好。一般要求粒度小于200 目。
(2) 偏析 偏析是指组分元素在样品中分布的差异。偏析有两种:粒间偏析:粉末颗粒A 和B 之间混合不均匀;元素偏析:元素分布对粒度分布的非匀质性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情况下仍不能解决,可用其它制样手段,如熔融,溶解等。
(3)矿物效应 由于矿物的化学结构或微观晶体形态不同,含量相同的同一元素在不同的矿物中,它们的荧光强度会有很大的差异。所谓的矿物效应不单是针对矿物,在粉末样品的X 荧光光谱仪分析中有着广泛的含义。
http://rohsyiqi.b2b168.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第825876位访客

版权所有 ©2025 八方资源网 粤ICP备10089450号-8 江苏天瑞仪器股份有限公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 八方供应信息 投诉举报 网站地图