x射线荧光光谱仪检测器 X荧光光谱仪分析仪
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产品描述

能量分辨率144±5eV 测量对象元素含量 测量范围N-U 测量精度1ppm 适用范围电子电器、金属、塑料、涂料 探测器SDD 含量范围ppm-- 电源电压220V 分析时间200秒左右 检测限1ppm(基材不同有所变化)
本产品是在天瑞仪器多年XRF检测技术和经验基础之上研发的一款新型X射线荧光光谱测试仪,采用新一代探测器及多道技术,实现**高计数率,1秒出结果,准确分析贵金属含量。同时,具备二维移动平台及高清工业摄像头,实现样品定位
x射线荧光光谱仪检测器
PM2.5大气重金属在线分析仪 
仪器概述:
全天候PM2.5大气重金属在线分析仪是天瑞公司经过多年研发,采用国内天瑞的二次靶技术,利用X射线荧光原理和过滤溥膜收集PM2.5颗粒技术,搭载天瑞的VisualFP基本参数法分析软件,快速准确检测大气PM2.5颗粒中微量重金属含量。
应用领域:
大气质量监测
空气颗粒物重金属含量分析
污染源定位、溯源
性能优势:
1.目前国内只有天瑞拥有完整的二次靶技术。
2.采用两个二次靶就可以对PM2.5颗粒物中的重金属进行分析,光管靶材采用Rh靶,Mo靶测试(S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb),Gd靶测试(Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba)等。
3.空气收集采用双通道切割器,可对大气颗粒物浓度进行同源双路(PM2.5和PM10)连续监测,将空气收集后富集在滤膜上形成Φ11mm左右的斑点。
4.对滤膜样品无损检测,可保存。
5.天瑞的VisualFp基本参数法分析软件,*标准样品标定,即可对收集的滤膜样品进行重金属含量分析。
6.全天候长时间*人员监守。
7.采用工业级电子电气防雷设计标准,可有效防止雷击损伤。
8.软件可自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度
9.三重射线防护(软件、硬件、迷宫设计),确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害
10.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等),符合多种统计及格式要求
11.软件对多次测试结果进行统计分析功能。
技术指标:
1.应用:全天候连续自动采样;测定空气中颗粒固体物中的重金属;
2.适用标准:美国EPA IO 3.3(《X射线荧光光谱法检测环境颗粒物种重金属》);
3.测量范围:0-1000ug/m3;
4.检出限0.1ug/m3(采样时间60min、流速:16.7 L/min)
5.采样流速:16.7 L/min(升/秒钟);
6.采样分析时间间隔:60分钟或根据需要调整,但不得低于30分钟;
7.监测元素:S、K、Ca、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Au、Hg、Tl、Pb、Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Ba等24种,可扩展;
8.软件采用方法:FP法
9.报表输出:EXCEL或PDF可选,报告附空气质量变化趋势图;
10.通讯接口:RS232/485,USB;
11.工作环境温度:15-30℃;
12.工作环境相对湿度: ≤85%(不结露)
13.供电电源:220V±10%,50/60HZ
x射线荧光光谱仪检测器
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——(SDD)分辨率低至125eV
优势:探测面积大(面积达25m㎡)、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率高,探测信噪比强,检出限低
2、采用行业的数字多道技术
优势:有效提高输出效率,实现**高计数率,保证采集有效计数率**过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势:使贵金属的激发效率高
4、光闸系统
优势:样品换*关闭高压,提高测试效率与测试精度
x射线荧光光谱仪检测器
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
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