较薄可测试0.005um
较多可测试层数5层
原理X荧光光谱
检测器类型SDD探测器
算法FP基本参数
镀层测厚仪分析范围: Ti-U,可分析高3层15个元素分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)电镀表面镀层测厚仪测量时间:40秒(可根据实际情况调整)探测器分辨率:(160±5)eV光管高压:5-50kV管流:50μA-1000μA环境温度:15℃-30℃环境湿度:30%-70%
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